Departamento de Ingeniería Electrónica
Universidad de Sevilla


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Miguel Aguirre Echanove

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Publicaciones (desde 2015)

Publicaciones

Revistas Internacionales

  • Título: Automatic Single Event Effects sensitivity analysis of a 13-bit Successive approximation ADC
    Autores (p.o. de firma): F. Marquez, F. Muñoz, R. Palomo, L. Sanz, E. López, M. Aguirre, A. Jimenez
    Revista: IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol. 62, Nº 4, Pp. 1609-1616
    Fecha: 2015
© 2005, R. Millán (Departamento de Ingeniería Electrónica, Universidad de Sevilla)